在使用中，通过替换连接在两个支撑架之间的耦合元件或者调整多个耦合元件之间的连接关系，就可以将耦合去耦网络的参数调整至与被测设备的参数相匹配。摘要 本发明公开一种耦合去耦网络，包括：绝缘材质的底座、设置于底座上的多个导电元件支架、以及多个耦合元件；一种耦合去耦网络，其特征在于，包括：绝缘材质的底座；

根据权利要求1所述的耦合去耦网络，其特征在于，所述导电元件支架包括底架和个支撑架。根据权利要求2或3所述的耦合去耦网络，其特征在于，所述导电元件支架的支撑架包括： 与所述底架连接、且向所述底座的上方延伸的支撑架主体；根据权利要求4所述的耦合去耦网络，其特征在于，通过焊接方式连接所述耦合元件与相应的支撑架。根据权利要求5所述的耦合去耦网络，其特征在于，通过压力焊接方式连接所述耦合元件与相应的支撑架。

根据权利要求4所述的耦合去耦网络，其特征在于，通过导电夹持件连接所述耦合元件与相应的支撑架。根据权利要求4所述的耦合去耦网络，其特征在于，所述耦合元件包括电容、放电管和导线中的任意一种或任意多种。本发明属于电气测试技术领域，尤其涉及一种耦合去耦网络。随着电子技术的不断发展，电子设备所处的电磁环境日益复杂，为了检验电子设备在实际运行过程中的抗干扰能力，要对电子设备进行电磁兼容传导抗扰度测试。

0规定了一种新的测试方法，允许使用耦合/去耦网络进行发射测量（CDNE），以测量30至300 MHz频率范围内的干扰电压。这种方法使EUT可以直接连接到CDNE，从而允许单个传导发射测量来代替漫长的辐射发射测试。产品标准可以使用这种快速，方便和经济的选择。CDNE系列耦合/去耦网络CISPR 15为测量电气照明设备的无线电干扰特性提供了一种独立的方法。该方法规定使用IEC 61000-4-6中定义的耦合/去耦网络（CDN），扩展频率范围为30至300 MHz。

多个耦合元件，每个所述耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，所述多个耦合元件通过所述导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。根据权利要求1所述的耦合去耦网络，其特征在于，所述导电元件支架包括底架和两个支撑架。